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              MultiDetek2高純氬色譜儀采用PED等離子發射法技術測量氬氣中的雜質 - 埃登威自動化系統設備(上海)有限公司

              MultiDetek2高純氬色譜儀采用PED等離子發射法技術測量氬氣中的雜質

              第三代等離子發射技術的發布和應用,為我國的氣體產業升級、石油化工、冶金、環保、生化醫療等領域提供了一種高效分析手段,特別在氣體微量含量分析領域具有應用優勢,LDETEK成為世界上頭個擁有此技術的廠家?;谶@一技術,該公司開發了一系列衍生技術和產品。MultiDetek2高純氬色譜儀采用PED等離子發射法技術測量氬氣中的雜質其中,氧氬分離技術采用了專有的色譜柱和光譜濾光技術,可減少檢測的中間環節以及誤差和誤操作,提高安全性,適用于高純氣體、特種氣體、電子氣體行業的分析應用;痕量Ne的分析技術已在中國計量院等單位得到了應用和驗證,對Ne的檢測有很高的響應度,可以實現1ppb等級的痕量Ne分析;氮氣做載氣的等離子體發射技術可以替代火焰離子化檢測儀(FID),檢測烴類、揮發性有機化合物(VOCs)等氣體,可達到ppb級分析靈敏度,且運行成本極低。MultiDetek2高純氬色譜儀采用PED等離子發射法技術測量氬氣中的雜質產品:微量氮分析儀|益康煙氣分析儀|LPDT露點儀|美國深特露點儀|美國AII微量氧分析儀|便攜式露點儀|Presens頂空分析儀|藥品殘氧儀|XPDM便攜式露點儀|氧分析儀GPR-1200|氧分析儀價格|益康煙氣分析儀|進口煙氣分析儀|便攜式微量氧分析儀|進口露點儀|進口氧分析儀|PTI彎曲挺度儀|Frank-PTI儀器|儀器維修|硫化氫氣體分析儀|露點儀校準


              “基于第三代低溫等離子發射技術,LDETEK開發出MD2專用氣相色譜儀新產品和PlasmaDetek 3檢測器產品?!盡D2專用氣相色譜儀可實現用N2作為載氣、氧氬分離以及痕量Ne檢測。

              與MD2色譜儀配套的PlasmaDetek 3檢測器產品不僅可更換濾光片、可加熱,還具有多方面的應用優勢。MultiDetek2高純氬色譜儀采用PED等離子發射法技術測量氬氣中的雜質一是具有較高的選擇性,可*大程度避免主組分干擾,且其直線型結構可實現無死體積、吹掃快速。二是根據不同的檢測要求,氦(He)、氮(N2)、氬(Ar)、氖(Ne)均可作為載氣,且檢測過程無放射性、無放電電極,能避免載氣或樣品氣的污染。三是檢測靈敏度高,同等條件下,可達0.5ppb~1ppb的檢出限,特別對苯、VOCs等氣體雜質均有很高的響應,如Ne、H2S、COS、C6H6均能達到1ppb檢出限。四是不需使用脫氧肼或脫氧柱就能實現對O2、Ar的直接檢測。


              采用加拿大LDETEK的MultiDetek2色譜儀測量氬氣中的雜質,測量結果準確,不受干擾。


              更多MultiDetek2高純氬色譜儀采用PED等離子發射法技術測量氬氣中的雜質信息請直接致電埃登威上海021-55581219


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